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portal.dnb.de
... Christoph Schäffel, Ivo W. Rangelow, Eberhard Manske. Person(en), Stauffenberg, Jaqueline (Verfasser) · Ortlepp, Ingo (Verfasser) · Blumröder, Ulrike (Verfasser) ... Christoph Schäffel, Ivo W. Rangelow, Eberhard Manske. Person(en), Stauffenberg, Jaqueline (Verfasser) · Ortlepp, Ingo (Verfasser) · Blumröder, Ulrike (Verfasser)
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beluga.sub.uni-hamburg.de
Tip- and laser-based nanofabrication up to 100 mm with sub-nanometre precision / Ingo Ortlepp, Michael Kühnel, Martin Hofmann, Laura Weidenfeller, Johannes Kirchner, Shraddha Supreeti, Rostyslav Mastylo, Mathias Holz, Thomas Michels, Roland Füßl, Ivo W. Rangelow, Thomas Fröhlich, Denis Dontsov, Christoph Schäffel, and Eberhard Manske
Investigations on the positioning accuracy of the Nano ...
www.degruyter.com
von J Stauffenberg · · Zitiert von: 1 — Ulrike Blumröder, Denis Dontsov, Christoph Schäffel, Mathias Holz, Ivo W. Rangelow und Eberhard Manske. Aus der Zeitschrift tm - Technisches Messen. › doi › teme › html
Investigations on the positioning accuracy of the Nano Fabrication ...www.degruyter.com › document › doi › teme › html
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· Ulrike Blumröder, Denis Dontsov, Christoph Schäffel, Mathias Holz, Ivo W. Rangelow and Eberhard Manske. https://doi.org teme
Christoph WeiseDBLP
dblp.uni-trier.de
, Michael Katzschmann, Steffen Hesse, Christoph Schäffel, Christoph Weise, Denis Dontsov, Eberhard Manske, Johann Reger : Picometer-Scale Positioning of a ... , Michael Katzschmann, Steffen Hesse, Christoph Schäffel, Christoph Weise, Denis Dontsov, Eberhard Manske, Johann Reger : Picometer-Scale Positioning of a ...
Eberhard ManskeDBLP
dblp.org
Huaman, Michael Katzschmann, Steffen Hesse, Christoph Schäffel, Christoph Weise, Denis Dontsov, Eberhard Manske, Johann Reger : Picometer-Scale Positioning ... Huaman, Michael Katzschmann, Steffen Hesse, Christoph Schäffel, Christoph Weise, Denis Dontsov, Eberhard Manske, Johann Reger : Picometer-Scale Positioning ...
Michael KatzschmannDBLP
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— Huaman, Michael Katzschmann, Steffen Hesse, Christoph Schäffel, Christoph Weise, Denis Dontsov, Eberhard Manske, Johann Reger : Picometer — Huaman, Michael Katzschmann, Steffen Hesse, Christoph Schäffel, Christoph Weise, Denis Dontsov, Eberhard Manske, Johann Reger : Picometer ...
OPUS 4 | Scan performance of nanopositioning systems with …
opus.bibliothek.uni-augsburg.de
WEBMetadaten; Author: Steffen Hesse, Christoph Schäffel, Stephan Zschäck, Christoph Ament ORCiD GND, Andreas Müller, Eberhard Manske: Frontdoor URL: https://opus ...
IEEE International Conference on Mechatronics, ICM researchr.org
researchr.org
Huaman, Michael Katzschmann, Steffen Hesse, Christoph Schäffel, Christoph Weise, Denis Dontsov, Eberhard Manske, Johann Reger [doi] · Time Series ... Huaman, Michael Katzschmann, Steffen Hesse, Christoph Schäffel, Christoph Weise, Denis Dontsov, Eberhard Manske, Johann Reger [doi] · Time Series ...
Tip- and laser-based nanofabrication up to 100 mm with sub-nanometre...
spie.org
· Christoph Schäffel, Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme ( Germany) Eberhard Manske, Technische Univ. Ilmenau (Germany) ...
Denis Dontsov - researchr alias advisedresearchr.org
researchr.org
OR AND NOT 1. Alex S. Huaman. Christoph Schäffel. Christoph Weise. Denis Dontsov. Eberhard Manske. Johann Reger. Michael Katzschmann. Steffen Hesse. Filter by ... OR AND NOT 1. Alex S. Huaman. Christoph Schäffel. Christoph Weise. Denis Dontsov. Eberhard Manske. Johann Reger. Michael Katzschmann. Steffen Hesse. Filter by ...
Ein neuartiges Konzept für 5D Nanopositionier- ...OUCI
ouci.dntb.gov.ua
Michael Kühnl, Thomas Fröhlich, Roland Füßl, Martin Hoffmann, Eberhard Manske, Ivo W. Rangelow, Johann Reger, Christoph Schäffel, Stefan Sinzinger, Jens-Peter ... Michael Kühnl, Thomas Fröhlich, Roland Füßl, Martin Hoffmann, Eberhard Manske, Ivo W. Rangelow, Johann Reger, Christoph Schäffel, Stefan Sinzinger, Jens-Peter ...
Proceedings | NanoFIS Browse ArticlesMDPI
www.mdpi.com
... Christoph Schäffel, Steffen Strehle, Jens-Peter Zöllner, Ivo W. Rangelow and Eberhard Manske. Proceedings 2020, 56(1), 34; https://doi.org Christoph Schäffel, Steffen Strehle, Jens-Peter Zöllner, Ivo W. Rangelow and Eberhard Manske. Proceedings 2020, 56(1), 34; https://doi.org
Investigations on long-range AFM scans using a ...
lux.leuphana.de
Investigations on long-range AFM scans using a nanofabrication machine (NFM-100) / Jaqueline Stauffenberg, Ingo Ortlepp, Christoph Reuter, Mathias Holz, Denis Dontsov, Christoph Schäffel, Steffen Strehle, Jens-Peter Zöllner, Ivo W. Rangelow and Eberhard Manske
(PDF) Investigations on Long-Range AFM Scans Using a ...
www.academia.edu
... Mathias Holz 3, Denis Dontsov 4, Christoph Schäffel 5, Steffen Strehle 2, Jens-Peter Zöllner 6, Ivo W. Rangelow 7 and Eberhard Manske 1 1 Production and ... › Investi...
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Christoph Schäffel. Steffen Strehle. Jens-Peter Zöllner. Ivo W. Rangelow. Eberhard Manske. With settings. Email: Freq: Daily, Weekly, Monthly ... › scifeed_display
Johann Reger - researchr alias
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... Michael Katzschmann, Steffen Hesse, Christoph Schäffel, Christoph Weise, Denis Dontsov, Eberhard Manske, Johann Reger. icmech 2021: 1-6 [doi]. › alias › johan...
Nanopositioning and - PROCEEDINGS OF SPIE
www.spiedigitallibrary.org
von J Stauffenberg · · Zitiert von: 6 — Dontsov, Christoph Schäffel, Jens-Peter Zöllner, Ivo Rangelow, Steffen. Strehle, Eberhard Manske, "Nanopositioning and -fabrication using ... › Download
Nanopositioning and-fabrication using the Nano Fabrication ...www.spiedigitallibrary.org › pdf
www.spiedigitallibrary.org
· Dontsov, Christoph Schäffel, Jens-Peter Zöllner, Ivo Rangelow, Steffen. Strehle, Eberhard Manske, "Nanopositioning and -fabrication using the ...
fabrication using the Nano Fabrication Machine Patent Lens
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— ... Mathias Holz 2 , Denis Dontsov 3 , Christoph Schäffel 4 , Jens-Peter Zöllner 1 , Ivo W Rangelow 1 , Steffen Strehle 1 , Eberhard Manske ... › lens › article
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