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ZuE Zuverlässigkeit und Entwurf
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Roland Jancke, André Lange, Leif Müller, Christoph Sohrmann, Fraunhofer IIS/EAS, Dresden: An in situ Timing Measurement Method for Reliability Diagnosis of Digital Circuits : Nasim Pour Aryan, Martin Wirnshofer, Doris Schmitt-Landsiedel, Technische Universität München; Georg Georgakos, Infineon Technologies AG, Neubiberg
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