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Doppelsieg für Kristalline Halbleiterspiegel - openPR
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... Erlangen) und Daniel Raseghi, Meinrad Spitz (E+H Metrology GmbH) openPR.de/t Ge-on-Si-Photodiode mit Black-Silicon-Lichtfalle
Doppelsieg für Kristalline Halbleiterspiegel - Pressetext
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(Fraunhofer IISB, Erlangen) and Daniel Raseghi, Meinrad Spitz (E+H Metrology GmbH) / Hall 12, Ge-on-Si Photodiode with Black-Silicon Light Traps › news-14
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