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Femtosecond nonlinear optical characterisation of silicon wafers the role of symmetry (2001); Jürgen Reif Th. Schneider Dirk Wolfframm Reiner P. Schmid.
Explosive Ion Emission from Sapphire upon Femtosecond ...Optica Publishing Group
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Jürgen Reif, Matthias Henyk, and Dirk Wolfframm. Author Information. Author Affiliations. Jürgen Reif,* Matthias Henyk, and Dirk Wolfframm. LS ...
Highly Efficient, Ultrafast Laser Beam Manipulation by ...Optica Publishing Group
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von T Schneider · · Zitiert von: 1 — Ultrafast Transient Index Grating in Barium Fluoride. Thomas Schneider, Dirk Wolfframm, Rolf Mitzner, and Jürgen Reif LWA8 Novel Lasers and Devices-Basic ...
Ultrafast transient grating in Barium FluorideOptica Publishing Group
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Thomas Schneider, Dirk Wolfframm, Rolf Mitzner, and Jürgen Reif LWA8 Novel Lasers and Devices-Basic Aspects (NLDA) Previous Article Next Article ...
Highly Efficient, Ultrafast Laser Beam Manipulation by ...Optica
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von T Schneider · · Zitiert von: 1 — Thomas Schneider, Dirk Wolfframm, Rolf Mitzner, and Jürgen Reif LWA8 Novel Lasers and Devices-Basic Aspects (NLDA)
Femtosecond laser ionization mass spectrometric analysis ...ScienceDirect.com
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von F Costache · · Zitiert von: 9 — Florenta Costache , Markus Ratzke , Dirk Wolfframm 1 , Jürgen Reif. Show more. Add to Mendeley. Share. Cite. https://doi.org j.apsusc
SAPHIR
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Matthias Henyk, Rolf Mitzner*, Dirk Wolfframm, Jürgen Reif. *neue Adresse: FIMEA GmbH, Berlin-Adlershof. Einführung. Trifft ein intensiver Laserstrahl auf eine ...
Es fehlt: normteile ehret
Laser Applications in Microelectronic and Optoelectronic...
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Author(s): Juergen Reif; Matthias Henyk; Dirk Wolfframm. Show Abstract ... Author(s): Juergen Reif; Thomas Schneider; Reiner P. Schmid; Dirk Wolfframm.
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Efficient Self Diffraction and Enhancement of Surface SHGKOBV
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Metadaten. Author: Thomas Schneider, Dirk Wolfframm, Rolf Mitzner, Jürgen ReifGND. ISSN: Title of the source (English):, Applied Surface Science.
Nonlinear optical characterization of silicon wafers: in-situ ...SPIE Digital Library
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... Dirk Wolfframm. Author Affiliations +. Juergen Reif,1 Thomas Schneider,1 Reiner P. Schmid,1Dirk Wolfframm1 1Brandenburgische Technische Univ. Cottbus ...
Temporal Contrast Enhancement of Femtosecond Pulses ...Semantic Scholar
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... Dirk Wolfframm and Rolf Mitzner and Juergen Reif and James R. Hunter and William E. White and Lorenzo Canova and Davide Boschetto and Laura Antonucci and ...
Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaftdpg-verhandlungen.de
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09:45, Q 19.3, Zerstörung der Oberflächenempfindlichkeit der SHG durch ein transientes Brechungsindexgitter — •Thomas Schneider, Dirk Wolfframm und Jürgen Reif.
Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
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Wachstum dünner Pr x O y-Schichten auf Si(100) mittels PLD: Einfluss der Wachstumsparameter — • Mathias Kappa, Dirk Wolfframm, Markus Ratzke und Jürgen Reif 14:30 DS 24.7
In-situ detection of external stressKOBV
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von J Reif · · Zitiert von: 3 — Jürgen ReifGND, Reiner P. Schmid, Thomas Schneider, Dirk Wolfframm · Article · English · · Solid-State Electronics 44(2000)5, S ,
PLD of high-k dielectric films on siliconproceedings.spiedigitallibrary.org › proceeding
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Markus Ratzke, Mathias Kappa, Dirk Wolfframm, Simona Kouteva-Arguirova, and Juergen Reif "PLD of high-k dielectric films on silicon", Proc.
Ultrafast laser-induced index grating in transparent insulatorsKOBV
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Metadaten. Author: Thomas Schneider, Dirk Wolfframm, Jürgen ReifGND. ISSN: x. Title of the source (English):, Nuclear Instruments and Methods B. von J Reif · · Zitiert von: 3 — Metadaten. Author: Jürgen ReifGND, Reiner P. Schmid, Thomas Schneider, Dirk Wolfframm. Document Type: Article. Language: English. Year of publication:
PLD of high-k dielectric films on siliconSPIE Digital Library
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von M Ratzke · · Zitiert von: 4 — Markus Ratzke, Mathias Kappa, Dirk Wolfframm, Simona Kouteva-Arguirova,. Juergen Reif, "PLD of high-k dielectric films on silicon," Proc. SPIE 5662, Fifth.
Ultra short laser pulse induced charged particle emission ...KOBV
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von M Henyk · · Zitiert von: 64 — Ultra short laser pulse induced charged particle emission from wide bandgap crystals. Matthias Henyk, Dirk Wolfframm, Jürgen Reif ...
Influence of Local Heating on Micro-Raman Spectroscopy OPUS 4
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Metadaten. Author: Simona Kouteva-Arguirova, Tzanimir V. ArguirovGND, Dirk Wolfframm, Jürgen ReifGND. ISSN: Title of the source (English): ... › index › index › year › docId
Femtosecond laser ionization mass spectrometric analysis of layers ...
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... laser ionization mass spectrometric analysis of layers grown by pulsed laser deposition. Florenta Costache, Markus Ratzke, Dirk Wolfframm, Jürgen Reif. › resource
OPUS 4 | Pulsed Laser Deposition of Thin PrxOx Films on Si(100)
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Metadaten. Verfasserangaben: Dirk Wolfframm, Markus Ratzke, Mathias Kappa, M. J. Montenegro, M. Döbeli, Th. Lippert, Jürgen Reif. ISSN:
Influence of local heating on micro-Raman spectroscopy of ...
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— ... on micro-Raman spectroscopy of silicon}, author={Simona Kouteva-Arguirova and Tzanimir Vl Arguirov and Dirk Wolfframm and Juergen Reif}, ... › ...
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