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Gerd-Ruediger JAENISCH | Dr. rer. nat. et Ing. habil
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Gerd-Ruediger JAENISCH | Cited by 158 | of Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, Berlin (BAM) | Read 46 publications | Contact Gerd-Ruediger JAENISCH
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Gerd-Ruediger JAENISCH | Cited by 170 | of Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, Berlin (BAM) | Read 46 publications | Contact Gerd-Ruediger ... Gerd-Ruediger JAENISCH | Cited by 170 | of Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, Berlin (BAM) | Read 46 publications | Contact Gerd-Ruediger ...
Contact form NanoXSpot - ptb.de
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WEBGerd-Rüdiger Jaenisch. Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM) Unter den Eichen Berlin, Germany. . …
European Association of National Metrology Insteuramet
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Gerd-Rüdiger Jaenisch. Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung. CountryGermany. BAM Gerd-Rudiger Jaenisch. Read more. Contacts. Search results
NanoXSpot - Measurement of the focal spot size of X-ray ...BAM.de
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— Gerd-Rüdiger Jaenisch. Kontakt Dr. rer. nat. Gerd-Rüdiger Jaenisch. Telefon + E-Mail. ÜBERSICHT. Aktuelles · Presse & News — Gerd-Rüdiger Jaenisch. Kontakt Dr. rer. nat. Gerd-Rüdiger Jaenisch. Telefon + E-Mail. ÜBERSICHT. Aktuelles · Presse & News ...
Springer Handbook of Metrology and Testing
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... UK .uk Gerd-Rüdiger Jaenisch Federal Institute for Materials Research and Testing (BAM) Non-destructive Testing Unter den Eichen › book
Springer Handbook of Metrology and Testinggoogle.co.uk
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Gerd-Rüdiger Jaenisch Chapter D.16, Sect and Testing (BAM) Non-destructive Testing Berlin, Germany gerd-ruediger.jaenisch ...
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von BAMB für Materialforschung — Gerd-Rüdiger Jaenisch, Dr.-Ing. Dietmar. Klingbeil, Dir. u. Prof.; BAM, Unter den Eichen 87,. D BerlinTele , E ... von BAMB für Materialforschung — Gerd-Rüdiger Jaenisch, Dr.-Ing. Dietmar. Klingbeil, Dir. u. Prof.; BAM, Unter den Eichen 87,. D BerlinTele , E ...
TITELANZEIG EDe Gruyter
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von MP INHALT — Gerd-Rüdiger Jaenisch. Dr.-Ing. Dietmar Klingbeil,. Dir. u. Prof. BAM, Unter den Eichen 87. D Berlin. Thomas ... von MP INHALT — Gerd-Rüdiger Jaenisch. Dr.-Ing. Dietmar Klingbeil,. Dir. u. Prof. BAM, Unter den Eichen 87. D Berlin. Thomas ...
Influence of Scattered Radiation on the Efficiency of Dual …
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WEBSanjeevareddy KOLKOORI, Gerd-Rüdiger JAENISCH, Andreas DERESCH Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin, Germany Gerd …
A Novel Multi Slit X-Ray Backscatter Camera Based on ...Iowa State University
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von F Wieder · · Zitiert von: 3 — Frank Wieder, Uwe Ewert, Carsten Bellon, Gerd-Rüdiger Jaenisch, Justus Vogel; BAM-. Berlin, Unter den Eichen 87, Division 8.3, Berlin, Germany A ... von F Wieder · · Zitiert von: 3 — Frank Wieder, Uwe Ewert, Carsten Bellon, Gerd-Rüdiger Jaenisch, Justus Vogel; BAM-. Berlin, Unter den Eichen 87, Division 8.3, Berlin, Germany A ...
Quantitative Simulation of Back Scatter X-ray Imag- ing and …
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WEBGerd-Rüdiger JAENISCH, Sanjeevareddy KOLKOORI, Carsten BELLON BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, Berlin, Germany Contact e-mail: gerd …
Kombination von analytischen und Monte-Carlo-MethodenDGZfP
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Carsten BELLON 1, Andreas DERESCH 1, Gerd-Rüdiger JAENISCH BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, Berlin. . Kurzfassung. Carsten BELLON 1, Andreas DERESCH 1, Gerd-Rüdiger JAENISCH BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, Berlin. . Kurzfassung.
Computed radiography system modeling, simulation and ...HAL Thèses
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von M Yao · · Zitiert von: 1 — ... Gerd-Rüdiger JAENISCH. Rapporteur. BAM Allemagne. Patrice LAQUERRIERE. Rapporteur. IPHC Strasbourg. Gérard MONTAROU. Examinateur. LPC Clermont ... von M Yao · · Zitiert von: 1 — ... Gerd-Rüdiger JAENISCH. Rapporteur. BAM Allemagne. Patrice LAQUERRIERE. Rapporteur. IPHC Strasbourg. Gérard MONTAROU. Examinateur. LPC Clermont ...
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WEBGerd-Rüdiger Jaenisch Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM) Unter den Eichen Berlin, Germany. Phone: …
Coordinators Research Projectseuramet
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Gerd-Rüdiger Jaenisch, BAM, 18NRM07, . Murat Aksulu, UME, 18RPT01, .tr. Václav Sedlák, CMI, 18RPT Gerd-Rüdiger Jaenisch, BAM, 18NRM07, . Murat Aksulu, UME, 18RPT01, .tr. Václav Sedlák, CMI, 18RPT
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Measurement of the focal spot size of X-ray tubes with ...EURAMET
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Gerd-Rüdiger Jaenisch (BAM). Enabling component inspection to the nanometre scale. New X-ray systems, using metrological computed tomography, can visually ... Gerd-Rüdiger Jaenisch (BAM). Enabling component inspection to the nanometre scale. New X-ray systems, using metrological computed tomography, can visually ...
Modellierung digitaler radiographischer Techniken im ...NDT.net
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Vortrag 84 Modellierung digitaler radiographischer Techniken im Rahmen des FilmFree Projektes Gerd-Rüdiger JAENISCH, Carsten BELLON, BAM Berlin K Vortrag 84 Modellierung digitaler radiographischer Techniken im Rahmen des FilmFree Projektes Gerd-Rüdiger JAENISCH, Carsten BELLON, BAM Berlin K....
Radiographic Visibility Limit of Pores in Metal Powder for ...EBSCO Information Services
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von GR Jaenisch · · Zitiert von: 4 — Gerd-Rüdiger Jaenisch 1, Uwe Ewert 2, Anja Waske 1 and Alexander Funk 1,*. 1. Bundesanstalt für Materialforschung und-prüfung (BAM), Unter den ...
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... Gerd-Rüdiger Jaenisch VIII.3 Radiological Methods, BAM Berlin Berlin Abstract The computer simulation of radiography is Gerd-Rüdiger Jaenisch VIII.3 Radiological Methods, BAM Berlin Berlin Abstract The computer simulation of radiography is ...
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Gerd-Rüdiger Jaenisch Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM) Unter den Eichen Berlin, Germany. Gerd-Rüdiger Jaenisch Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM) Unter den Eichen Berlin, Germany.
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A novel multi slit X-ray backscatter camera based on ...AIP.ORG
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von F Wieder · · Zitiert von: 3 — Gerd-Rüdiger Jaenisch;. Gerd-Rüdiger Jaenisch. 1. BAM Federal Institute for Materials Research and Testing. , Berlin,. Germany. Search for other ... von F Wieder · · Zitiert von: 3 — Gerd-Rüdiger Jaenisch;. Gerd-Rüdiger Jaenisch. 1. BAM Federal Institute for Materials Research and Testing. , Berlin,. Germany. Search for other ...
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