News
Programm TuZ style and fashion - doczz
doczz.net
... Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik- Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau Hochtemperatur-Wafertest bis 300°C Marco Reinhard, Ingo Gryl, ... › doc › programm-tuz-2016
TuZ Programm
conference.vde.com
Marco Reinhard, Ingo Gryl, Ulrich Liebold, André Richter, Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik- Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau IEEE P1838 – Testing in the 3D World. A status report of the IEEE standardization group. Michael Wahl, Universität Siegen Test Pattern Retargeting in 3D SICs Using an IEEE P1687 based 3DFT architecture
sortiert nach Relevanz / Datum