Jens Klier und Joachim Jonuscheit - Info zur Person

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Jede Schicht entscheidet - inVISION | Bildverarbeitung - Embedded...

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Autoren: Jens Klier, Dr. Stefan Weber, Dr. Joachim Jonuscheit, Prof. Dr. Georg von Freymann, Zentrum für Materialcharakterisierung und -prüfung, ...

Extending terahertz technology to obtain highly K Trade Fairwww.k-online.com › News › Exten...

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... paints using terahertz technology," is authored by Soufiene Krimi, Jens Klier, Joachim Jonuscheit, George von Freymann, Ralph Urbansky and Rene Beigang.

tm - Technisches Messen Band 77 Heft 9 -

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Frank Ellrich, Tristan Weinland, Jens Klier, Joachim Jonuscheit, René Beigang September 9, Page range: More Cite Requires Authentication ...

A Pulsed THz Imaging System with a Line Focus and a OSAwww.osapublishing.org › abstract

opg.optica.org

Christian Wiegand, Michael Herrmann, Sebastian Bachtler, Daniel Molter, Jens Klier, Joachim Jonuscheit, and René Beigang. Author Information ...

Terahertz-Wellen — ein neuer Spektralbereich für die industrielle...

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Terahertz Waves – A New Spectral Band for Industrial Measurement Techniques. Frank Ellrich, Jens Klier, Joachim Jonuscheit, Fraunhofer IPM, Kaiserslautern,.

Veröffentlichungen - TU Kaiserslautern

www.physik.uni-kl.de

Jens Klier, Garik Torosyan, Nina Susan Schreiner, Daniel Molter, Frank Ellrich, Wissem Zouaghi, Emilien Peytavit, Jean-François Lampin, René Beigang, Joachim Jonuscheit, and Georg von Freymann International Journal of Antennas and Propagation , (2015)

Zerstörungsfreie Schichtdickenmessung an Nassfilmen | SpringerLink

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Jens Klier; , Dr. Stefan Weber; , Dr. Daniel Molter; , Prof. Dr. Georg von Freymann; & Dr. Joachim Jonuscheit. Authors. Search for Jens Klier in:.

Zerstörungsfrei und berührungslos: robotergestützte...

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· Jens Klier, Dr. Stefan Weber, Dr. Daniel Molter, Prof. Dr. Georg von Freymann, Dr. Joachim Jonuscheit, Zerstörungsfreie Schichtdickenmessung ...

Terahertz-Wellen ein neuer Spektralbereich für die industrielle...

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Juli 2010, zur Veröffentlichung angenommen: 8. August Die Autoren von links: Jens Klier, Tristan Weinland, Joachim Jonuscheit, René Beigang und Frank Ellrich.

Fig. 1. Citation Christian Wiegand, Michael Herrmann ...imagebank.osa.org › getExport

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Christian Wiegand, Michael Herrmann, Sebastian Bachtler, Jens Klier, Daniel Molter, Joachim Jonuscheit, René Beigang, "A pulsed THz Imaging System with a ...

"Nondestructive thickness measurements on EBPVD thermal barrier...

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By Thomas Cosack, Jens Klier, and Joachim Jonuscheit, Published on

Extending Terahertz Technology to Obtain Highly Accurate Thickness of...

publishing.aip.org

· Authors. Soufiene Krimi, Jens Klier, Joachim Jonuscheit, George von Freymann, Ralph Urbansky and Rene Beigang ...

Photonic terahertz technology for layer thickness measurementswww.spiedigitallibrary.org ›

www.spiedigitallibrary.org

Daniel Molter, Jens Klier, Stefan Weber, Tobias Pfeiffer, Michael Kolano, Oliver Boidol, Mirco Kutas, Björn Haase, Joachim Jonuscheit, Georg ...

THz-Schichtdickenmessung an Automobillacken und ...www.ndt.net › search › docs

www.ndt.net

Jens Klier , Soufiene Krimi , Joachim Jonuscheit Fraunhofer Institute for Physical Measurement Techniques IPM , Kaiserslautern, Germany View: DE ...

Thermal Barrier Coatings IV | Proceedings | Engineering Conferences...

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Nondestructive thickness measurements on EBPVD thermal barrier coatings by using Terahertz technique, Thomas Cosack, Jens Klier, and Joachim Jonuscheit ...

Terahertz Imaging for Non-Destructive Testing

www.ndt.net

Joachim Jonuscheit , R Beigang , F Ellrich , Jens Klier , C Matheis , D Molter, M Theuer Fraunhofer Institute of Industrial Mathematics ITWM , Kaiserslautern, ...

Terahertz Spektroskopie - PDF Free Download - DocPlayer.orgdocplayer.org › Terahertz-spektroskopie

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... Joachim Jonuscheit Kerana Kamaruzaman Tobias Klees Jens Klier Juraida Marhaban Daniel Molter Oliver Paul Christian Petermann Christian Rau Benjamin ...

Zerstörungsfrei und berührungslos: robotergestützte ...www.springerprofessional.de › zerstoerungsfrei-und-be...

www.springerprofessional.de

Autoren: Jens Klier, Dr. Stefan Weber, Dr. Daniel Molter, Prof. Dr. Georg von Freymann, Dr. Joachim Jonuscheit. » Jetzt Zugang zum Volltext ...

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Authors : Joachim Jonuscheit , Jens Klier , Stefan Weber , Martin Schallhammer , Andreas Hänsel. 9,00 €. zzgl. Mwst. mehr erfahren schließen. The application ...

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