Tino Noll und Heiner Lammert - Info zur Person

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Auszeichnungen für HZB Synchrotron-Forschung - Adlershof

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Web17 de nov. de · Tino Noll, Frank Siewert, Tomas Zeschke und Heiner Lammert (HZB) nach der Preisverleihung (v.l.n.r.), Bild: © HZB Auf dem ersten gemeinsamen Treffen von …

Hervorragende Arbeiten zur Forschung mit ...

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— Heiner Lammert, Tino Noll, Frank Siewert und Tomas Zeschke haben ein Ultrapräzisions-Messinstrument für optische Oberflächen entwickelt. › news › hervorragen...

Tino Noll, Frank Siewert, Tomas Zeschke und Heiner Lammert …

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WebTino Noll, Frank Siewert, Tomas Zeschke und Heiner Lammert (HZB) nach der Preisverleihung (v.l.n.r.) » melden. Artikel. Hervorragende Arbeiten zur Forschung mit …

Editor's Pick - AIP Publishing - ScitationScitation

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Clemens von Korff Schmising, David Weder, Tino Noll, Bastian Pfau, Martin Hennecke, Christian Strüber, Ilie Radu, Michael Schneider, Steffen Staeck, ... von F Siewert · · Zitiert von: 185 — Frank Siewert, Tino Noll, Thomas Schlegel, Thomas Zeschke and Heiner Lammert. BESSYBerlin, Germany. Abstract. › collections › doi › pdf

Wave Optical Simulations of X-ray Nano-focusing Opticsgoogle.at

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[62] Frank Siewert, Tino Noll, Thomas Schlegel, Thomas Zeschke, and Heiner Lammert. The nanometer optical component measuring machine: a new sub-nm ...

SCHATTENBLICK - WERKSTOFFE/469: Hervorragende Arbeiten zur Forschung...

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Hervorragende Arbeiten zur Forschung mit Synchrotronstrahlung ausgezeichnet ... Heiner Lammert, Tino Noll, Frank Siewert und Tomas Zeschke haben ein Ultrapr ...

AT T - Rotationslager zur hochgenauen winkelpositionierung ...

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AT T. Austria. Download PDF Find Prior Art Similar. Other languages: German: English; Inventor: Tino Noll: Heiner Lammert ... › patent

DE D1 - Optisches messverfahren und ...Google

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Other languages: English; Inventor: Heiner Lammert: Tino Noll: Thomas Schlegel: Frank Siewert: Thomas Zeschke; Current Assignee. › patent

Vorrichtung zur mehrachsig feinjustierbaren lagerung ...Google

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Advanced metrology: an essential support for the surface ...SPIE Digital Library

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von F Siewert · Zitiert von: 47 — Frank Siewert, Heiner Lammert, Tino Noll, Thomas Schlegel, Thomas. Zeschke, Thomas Hänsel, Andreas Nickel, Axel Schindler, Bernd Grubert,. › Download

0.05 Âµrad Accuracy Metrology for a new Generation of MOAM.INFO

moam.info

Oct 5, Schlegel, Fred Senf, Thomas Zeschke, Karsten Blümer, Daniel. Böhlick, Sebastian Mucha and Heiner Lammert...

Sub-nm accuracy metrology for ultra-precise reflective X- ...Academia.edu

www.academia.edu

[9] Frank Siewert, Tino Noll, Thomas Schlegel, Thomas Zeschke, Heiner Lammert, The Nanometer Optical Component Measuring machine: a new sub-nm topography ...

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