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Characterization of Ru4-xTax (x = 1,2,3) alloy UGent BiblioUGent Biblio
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von M Wu · · Zitiert von: 11 — ... Victor Soltwisch, Frank Scholze, and Vicky Philipsen “Characterization of Ru4-XTax (x = 1,2,3) Alloy as Material Candidate for EUV ... von M Wu · · Zitiert von: 11 — ... Victor Soltwisch, Frank Scholze, and Vicky Philipsen “Characterization of Ru4-XTax (x = 1,2,3) Alloy as Material Candidate for EUV ...
Determination of optical constants of thin films in the EUVUGent Biblio
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von R Ciesielski · · Zitiert von: 22 — ... Victor Soltwisch “Determination of Optical Constants of Thin Films in the EUV.” APPLIED OPTICS 61 (8): 2060– doi: AO ... von R Ciesielski · · Zitiert von: 22 — ... Victor Soltwisch “Determination of Optical Constants of Thin Films in the EUV.” APPLIED OPTICS 61 (8): 2060– doi: AO ...
Benchmarking Five Global Optimization ACS PublicationsACS Publications
pubs.acs.org
von PI Schneider · · Zitiert von: 105 — Victor Soltwisch. Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), -12, D Berlin, Germany. More by Victor ... von PI Schneider · · Zitiert von: 105 — Victor Soltwisch. Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), -12, D Berlin, Germany. More by Victor ...
On uncertainties in the reconstruction of nanostructures ...arXiv
arxiv.org
von AF Herrero · · Zitiert von: 12 — Authors:Analía Fernández Herrero, Victor Soltwisch, Mika Pflüger, Jana Puls, Frank Scholze. Download a PDF of the paper titled On ... von AF Herrero · · Zitiert von: 12 — Authors:Analía Fernández Herrero, Victor Soltwisch, Mika Pflüger, Jana Puls, Frank Scholze. Download a PDF of the paper titled On ...
A new sample chamber for hybrid detection of scattering ...AIP.ORG
pubs.aip.org
von R Ciesielski · · Zitiert von: 3 — Victor Soltwisch. ORCID logo Victor Soltwisch. (Conceptualization, Funding acquisition, Supervision). 1. Physikalisch-Technische ... von R Ciesielski · · Zitiert von: 3 — Victor Soltwisch. ORCID logo Victor Soltwisch. (Conceptualization, Funding acquisition, Supervision). 1. Physikalisch-Technische ...
Simultaneous Dimensional and Analytical Characterization ...Wiley Online Library
onlinelibrary.wiley.com
von P Hönicke · · Zitiert von: 17 — ... Victor Soltwisch,. Victor Soltwisch. orcid.org Div Temperature and Synchrotron Radiation, Physikalisch-Technische ... von P Hönicke · · Zitiert von: 17 — ... Victor Soltwisch,. Victor Soltwisch. orcid.org Div Temperature and Synchrotron Radiation, Physikalisch-Technische ...
Characterization of Ru4-xTax (x = 1,2,3) alloy as material ...ScienceDirect.com
www.sciencedirect.com
von M Wu · · Zitiert von: 11 — , Özge Caner a b , Andy Goodyear f , Mike Cooke f , Qais Saadeh e , Victor Soltwisch e , Frank Scholze e , Vicky Philipsen a. Show more. Add to Mendeley. Share. von M Wu · · Zitiert von: 11 — , Özge Caner a b , Andy Goodyear f , Mike Cooke f , Qais Saadeh e , Victor Soltwisch e , Frank Scholze e , Vicky Philipsen a. Show more. Add to Mendeley. Share.
Grazing-incidence small-angle X-ray scattering (GISAXS) ...ScienceDirect.com
www.sciencedirect.com
von M Pflüger · · Zitiert von: 3 — ... targets using large beams. Erratum. Author links open overlay panel. Mika Pflüger a , Victor Soltwisch a , Jürgen Probst b , Frank Scholze a , Michael ... von M Pflüger · · Zitiert von: 3 — ... targets using large beams. Erratum. Author links open overlay panel. Mika Pflüger a , Victor Soltwisch a , Jürgen Probst b , Frank Scholze a , Michael ...
Analysis of Line-Edge Roughness Using EUV ScatterometrySpringer
link.springer.com
von A Fernández Herrero · · Zitiert von: 5 — Victor Soltwisch. Show authors Accesses. 3 Citations. 3 Altmetric. Explore ... Frank Scholze & Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische ... von A Fernández Herrero · · Zitiert von: 5 — Victor Soltwisch. Show authors Accesses. 3 Citations. 3 Altmetric. Explore ... Frank Scholze & Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische ...
Victor SoltwischGoogle Scholar
scholar.google.com
Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische Bundesanstalt. Bestätigte E-Mail-Adresse bei ptb.de. ArtikelZitiert vonÖffentlicher ZugriffKoautoren ... Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische Bundesanstalt. Bestätigte E-Mail-Adresse bei ptb.de. ArtikelZitiert vonÖffentlicher ZugriffKoautoren ...
Determination of line profile on nanostructured surfaces ...KOBV
opus4.kobv.de
von V Soltwisch · · Zitiert von: 10 — Determination of line profile on nanostructured surfaces using EUV and x-ray scattering. Victor Soltwisch, Jan Wernecke, Anton Haase, Jürgen Probst, Max ... von V Soltwisch · · Zitiert von: 10 — Determination of line profile on nanostructured surfaces using EUV and x-ray scattering. Victor Soltwisch, Jan Wernecke, Anton Haase, Jürgen Probst, Max ...
Grazing Incidence Small Angle X-Ray Scattering (GISAXS) ...Inspire HEP
inspirehep.net
von M Pflüger · Zitiert von: 32 — Victor Soltwisch. ,. Jürgen Probst. ,. Frank Scholze. ,. Michael Krumrey. Mar 3, pages. e-Print: [cond-mat.mes-hall]. DOI: von M Pflüger · Zitiert von: 32 — Victor Soltwisch. ,. Jürgen Probst. ,. Frank Scholze. ,. Michael Krumrey. Mar 3, pages. e-Print: [cond-mat.mes-hall]. DOI:
High-precision optical constants characterization of ...SPIE Digital Library
www.spiedigitallibrary.org
von V Soltwisch · · Zitiert von: 2 — ... Victor Soltwisch, "Determination of optical constants of thin films in the EUV ... Heiko Mentzel, Anja Schönstedt, Victor Soltwisch, and Frank Scholze, "Time ... von V Soltwisch · · Zitiert von: 2 — ... Victor Soltwisch, "Determination of optical constants of thin films in the EUV ... Heiko Mentzel, Anja Schönstedt, Victor Soltwisch, and Frank Scholze, "Time ...
Modeling and empirical characterization of the polarization ...Iowa Research Online
iro.uiowa.edu
von H Marlowe · · Zitiert von: 14 — Victor Soltwisch, Frank Scholze, Analia Fernandez Herrero and Christian ... Victor Soltwisch - Physikalisch-Technische Bundesanstalt. Frank ... von H Marlowe · · Zitiert von: 14 — Victor Soltwisch, Frank Scholze, Analia Fernandez Herrero and Christian ... Victor Soltwisch - Physikalisch-Technische Bundesanstalt. Frank ...
NanoscaleRSC Publishing
pubs.rsc.org
von V Soltwisch · · Zitiert von: 38 — Element sensitive reconstruction of nanostructured surfaces with finite elements and grazing incidence soft X-ray fluorescence ; Victor Soltwisch · * ; Philipp ... von V Soltwisch · · Zitiert von: 38 — Element sensitive reconstruction of nanostructured surfaces with finite elements and grazing incidence soft X-ray fluorescence ; Victor Soltwisch · * ; Philipp ...
Quantitative reconstruction of atomic orbital densities of neon ...American Physical Society
link.aps.org
von H Kirschner · · Zitiert von: 1 — Hans Kirschner, Alexander Gottwald, Victor Soltwisch, Mathias Richter, Peter Puschnig, and Simon Moser. Phys. Rev. A 109, – Published ... von H Kirschner · · Zitiert von: 1 — Hans Kirschner, Alexander Gottwald, Victor Soltwisch, Mathias Richter, Peter Puschnig, and Simon Moser. Phys. Rev. A 109, – Published ...
Shape- and Element-Sensitive Reconstruction of Periodic ...National Institutes of Health (NIH) (.gov)
pubmed.ncbi.nlm.nih.gov
von A Andrle · · Zitiert von: 19 — ... Victor Soltwisch. Affiliations. 1 Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), -12, Berlin, Germany. 2 Helmholtz Zentrum ... von A Andrle · · Zitiert von: 19 — ... Victor Soltwisch. Affiliations. 1 Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), -12, Berlin, Germany. 2 Helmholtz Zentrum ...
Uncertainties in the reconstruction of nanostructures ...Potsdam Institute for Climate Impact Research
publications.pik-potsdam.de
von AF HERRERO · · Zitiert von: 12 — AND VICTOR SOLTWISCH Physikalisch-Technische Bundesanstalt, -12, Berlin, Germany. 2Potsdam Institute for Climate Impact Research (PIK) e ... von AF HERRERO · · Zitiert von: 12 — AND VICTOR SOLTWISCH Physikalisch-Technische Bundesanstalt, -12, Berlin, Germany. 2Potsdam Institute for Climate Impact Research (PIK) e ...
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