News Daniel Raseghi

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Doppelsieg für Kristalline Halbleiterspiegel - openPR

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... Erlangen) und Daniel Raseghi, Meinrad Spitz (E+H Metrology GmbH) openPR.de/t Ge-on-Si-Photodiode mit Black-Silicon-Lichtfalle

Doppelsieg für Kristalline Halbleiterspiegel - Pressetext

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(Fraunhofer IISB, Erlangen) und Daniel Raseghi, Meinrad Spitz (E+H Metrology GmbH) Ge-on-Si-Photodiode mit Black-Silicon-Lichtfalle › news › doppelsieg-fuer-kr...

aktuelle Meldung - Mikroproduktion

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Dr.-Ing. Lothar Pfitzner (Fraunhofer IISB, Erlangen), Daniel Raseghi und Meinrad Spitz (E+H Metrology); Ge-on-Si-Photodiode mit Black-Silicon-Lichtfalle; ... › branchenmeldung

AMA Innovationspreis 2015: Sechs Teams nominiert |...

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AMA Innovationspreis 2015: Sechs Teams nominiert. AMA Innovationspreis Der AMA Innovationspreis zählt seit 15 Jahren zu den renommierten Preisen in der...

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Doppelsieg fr Kristalline Halbleiterspiegel - AMA Innovationspreis und Sonderpreis fr Entwicklerteam aus Wien | Nachricht | finanzen.net

Double Winner Crystalline Semiconductors » SENSOR+TEST - The...

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(Fraunhofer IISB, Erlangen) and Daniel Raseghi, Meinrad Spitz (E+H Metrology GmbH) / Hall 12, Ge-on-Si Photodiode with Black-Silicon Light Traps › news-14
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