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Charakterisierung von ohmschen Titan/Aluminium-Kontakten auf Silizium-dotierten Galliumnitrid mit der Augerelektronenspektroskopie und der energiefilternden Transmissionselektronenmikroskopie
von Markus Blome, Mainz, G, 2003, Taschenbuch
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— Markus Blome, Peter Henseler, Bernhard Müller, Alois Wehrstedt. erschienen im. Januar Rubrik. Maschinenbau und Werkstoffe. ISBN — Markus Blome, Peter Henseler, Bernhard Müller, Alois Wehrstedt. erschienen im. Januar Rubrik. Maschinenbau und Werkstoffe. ISBN ,00 €
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by Markus Blome, Peter Henseler, Manfred Finger, Alois Wehrstedt, Bernd Mueller Paperback, 71 Pages, Published by Beuth Verlag
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Der Kommentar enthält ausführlichen Erläuterungen zur Anwendung der Norm DIN EN mit folgenden Schwerpunkten: Prüfbescheinigungen im Überblick,...
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by Markus Blome, H. -J. Zimmermann, M. Finger, P. Henseler, A. Wehrstedt, B. Müller, Din E.V., B. Mueller Paperback, 94 Pages, Published by Beuth ...
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... Silizium-dotierten Galliumnitrid mit der Augerelektronenspektroskopie und der energiefilternden Transmissionselektronenmikroskopie. Cover. Markus Blome.
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Gamper, Markus/Blome, Frerk (Hg.): Vom Arbeiterkind zur Professur. Sozialer Aufstieg in der Wissenschaft. Bielefeld: transcript
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